邮箱登录 | 设为首页 | 收藏本站

中心要闻

当前位置:主页 > 新闻中心 > 中心要闻 >

天津市知识产权局郭明副局长莅临中心考察专利项目

日期:2015-03-10    阅读量:161

  3月9日,天津市知识产权局郭明副局长一行到中心考察专利项目,检测分中心主任祁建城研究员及中心相关人员参加了会议。
     祁建城研究员汇报了中心拟申报2015年中国专利奖的项目“高效过滤器线扫描检漏系统”,从专利研发背景、技术先进性、专利转化情况、实施效果与效益、行业影响力等方面详细介绍了专利项目。郭明副局长指出,中国专利奖名额少,申报难度大,其评奖标准不仅强调项目的专利技术先进性和创新水平,也注重专利在市场转化过程中的运用情况及对其保护、管理状况。一定要充分结合自身特色,深挖优势,扬长避短,在社会贡献和行业推广方面下功夫,力争在中国专利奖上再创佳绩。
     随后,郭明副局长一行到中心的实验室及展室对专利项目和产品进行了实地考察。郭明副局长强调,高水平的技术研发团队,应该同时十分重视专利的运用,根据技术特点合理地进行专利布局,通过专利的资产化、信息化等方法,实现团队的技术保护、收益,以及了解竞争对手的研发进展等。